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UHAST加速老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。UHAST加速老化试验箱的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
体结构及安全装置：
1、内胆圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测物品，可预防试验中有滴水结露现象，可避免蒸汽过热
直接冲击操作人员。
2、安全程序自动停机，自动泄压，自动破真空，自动给水，可加载持续运行。
3、采用温度与压力安全检知及门禁自动锁定控制系统，圆型测试槽与安全门环扣结构设计，当内箱压力越大
时，反压会迫使安全门与箱体更加紧密之结合，故内箱压力必须小于正常压力时，测试门才能被打开，因
此而保证了操作人员的安全。
4、具备异常故障讯号警示功能
产品应用范围：
适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、半导体、线路板，多层线路板、IC、PCB、LCD、Board、电池、电容、电阻、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性等。
型 号 | UHAST-ZT-300 | UHAST-ZT-400 | UHAST-ZT-300T | UHAST-ZT-400T |
内部尺寸(W×H×D)cm | Φ30×50 | Φ40×50 | Φ30×50 | Φ40×50 |
外箱尺寸(W×H×D)cm | 68×150×75 | 78×160×75 | 68×150×75 | 78×160×75 |
使用温度范围 | +100℃ ～ +132℃ | +100℃～+143℃ （+155℃特殊选购) | ||
压力范围 | 0.2~2.0Kg/cm2 （0.05~0.196mpa） | 0.2 ~3.0Kg/cm2 （0.05~0.294mpa） | ||
温度均匀度 | ≤±0.5℃（湿度100％R.H） ≤±1.0℃（湿度75％R.H） | |||
温度波动度 | ≤±0.5℃ | |||
湿度范围 | 75％~100％R.H | |||
湿度均匀度 | ≤±3.0％R.H | |||
湿度波动度 | ≤±2.5％R.H | |||
循环方式 | 水蒸气自然对流循环 | |||
BIAS偏压端子（选购） | 依据用户需求定制 | |||
安全保护装置 | 缺水保护，超压保护、 (具有自动/手动补水功能，自动泻压功能) | |||
标准配置 | 测试置架、样品盘、压力信号传输显示、（试验数据记录器选配) | |||
控制器系统 | 采用7寸TFT彩色触控式控制器附带P.I.D 自动演算功能 | |||
通讯 | LAN网口电脑连接，USB数据下载保存 | |||
电 源 | AC220V，50Hz | |||
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