固话:+86 - 769 - 8390 7599 手机:13712359910 返回首页 | 联系我们
产品中心/ product center 您的位置:网站首页 > 产品中心 > 冷热冲击试验箱 > 液体冷热冲击试验箱 > ZT-CTH-56C液体冷热冲击试验箱
液体冷热冲击试验箱

液体冷热冲击试验箱

产品型号: ZT-CTH-56C

所属分类:液体冷热冲击试验箱

产品时间:2022-10-13

简要描述:液体冷热冲击试验箱-适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验(冲击),适应于仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质.

详细说明:

液体冷热冲击试验箱用途:

适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验(冲击),适应于仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试工具.


液体冷热冲击试验箱满足标准:

GJB150.5-86温度冲击试验

GJB360.7-87温度冲击试验

GJB150.4-86 低温试验箱试验方法

GJB150.3-86 高温试验箱试验方法

IEC68-2-14 试验N:温度变化

GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法

GB 2423-22环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化

MIL-STD-202F美军标准,电子及电气试验方法

MIL-STD-883E美军标准,集成电路失效分析方法


主要参数

n温度暴露范围:+60℃ ~ +150℃/-65℃ ~ 0℃

n测试时间 ≥10min

n温度转换时间:≥30S

n测试方式:试样放入不同温度的液体介质中

型号

ZT-CTH-27C

ZT-CTH-56C

模式

浸渍在液体介质浴中,通过样品篮的移动到达低温或高温槽内

试验样品尺寸(mm)

130×160×130  【W*H*D】

160×160×220  【W*H*D】

预冷温度范围

-70℃~0℃

预热温度范围

+60℃~+200℃

温度冲击范围

-40℃~+150℃/-65℃~+150℃

测试时间

≥10 mins

≥10 mins

转换移动时间

≤30s

温度偏差

±1.0℃

温度波动度

±0.5℃

温度波动度

±1.0℃

使用电源

AC 3¢5W 380V  60/50Hz










留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

在线客服 二维码

扫一扫,关注我们