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看看PCT试验箱和HAST老化试验箱间的“PK”
看看PCT试验箱和HAST老化试验箱间的“PK”
PCT试验箱的目的是提高环境应力(如温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。PCT试验箱的主要功能是压力是对应温度饱和压力显示，湿度也是对应该温度条件下的饱和蒸汽压力。也就是说，试验温度随用户试验条件确定的同时也就确定了饱和蒸汽压力和饱和蒸汽湿度，一般湿度固定值R.H，温度范围在100℃-132℃，压力范围在0.0Kg/cm2-2.0Kg/cm2控制点压力。
PCT试验箱的用途：
1.PCT试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛的温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架的接口渗入封装体；
2.广泛应用于线路板、多层线路板、IC、LCD、磁铁等产品的密封性能的检测，测试其制品的耐压性，气密性。
HAST老化试验箱的主要功能则是温度、压力、湿度随用户试验条件随意设定，不受饱和蒸汽压力和饱和蒸汽湿度的影响，即为非饱和控制。也就是说，试验温度、压力、湿度随用户试验条件确定随意设定。此时会存在一个问题：非饱和状态下的湿度的准确性的问题，湿度检测装置是根据试验箱内真实环境通过干湿球对比出来显示和控制的，不是通过换算关系显示出来并控制，其准确性得以保障。HAST老化试验箱的湿度、温度及压力范围参数可在任意区间设定调节。
对比PCT试验箱与HAST老化试验箱的“PK”就是这些，HAST老化试验箱可以进行饱和试验（STD）和非饱和试验（HUM）两种试验模式，可通过试验条件随意设定，对于所进行的加速老化测试所有条件*可以满足。
