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HAST老化试验箱是如何突破技术封锁的?

点击次数:155 发布时间:2020-02-17

   HAST老化试验箱加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

  HAST老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此HAST老化试验箱用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了新的压力蒸煮锅试验方法。用较少的时间就可完成对产品的湿度的测试。在100℃以上的温度下,通过提高和增加压力,可以模拟正常湿度测试,同时保持相同的故障机制。几小时或几天就能通过产品的老化测试,大大节省了产品开发周期。
  如今HAST老化试验箱可依客户需求定制非标环境试验设备,在环境可靠度测试设备产业领域累积丰富的产品研发经验,充分掌握关键零组件的开发,对于材料应用、制程技术、检测设备等能力,不断自我挑战追求良好成本效益,发挥制造优势及系统整合服务。凭借现代化企业管理,迎合国际环境试验设备发展前沿,将安全实用、节能环保完美糅合,不断突破技术壁垒。

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