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HAST老化试验箱是如何突破技术封锁的？
HAST老化试验箱加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
HAST老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此HAST老化试验箱用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。用较少的时间就可完成对产品的湿度的测试。在100℃以上的温度下，通过提高和增加压力，可以模拟正常湿度测试，同时保持相同的故障机制。几小时或几天就能通过产品的老化测试，大大节省了产品开发周期。
如今HAST老化试验箱可依客户需求定制非标环境试验设备，在环境可靠度测试设备产业领域累积丰富的产品研发经验，充分掌握关键零组件的开发，对于材料应用、制程技术、检测设备等能力，不断自我挑战追求良好成本效益，发挥制造优势及系统整合服务。凭借现代化企业管理，迎合环境试验设备发展前沿，将安全实用、节能环保完美糅合，不断突破技术壁垒。
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