HAST-ZT-400-UHAST老化试验箱

UHAST老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。UHAST老化试验箱的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

箱体结构及安全装置：

1、HAST内胆圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测物品，可预防试验中有滴水结露现象，可避免蒸

    汽过热直接冲击操作人员。

2、安全程序自动停机，自动泄压，自动破真空，自动给水，每次加水可持续运行400小时。

3、采用温度与压力安全检知及门禁自动锁定控制系统，圆型测试槽与安全门环扣结构设计，当内箱压力越大

      时，反压会迫使安全门与箱体更加紧密之结合，故内箱压力必须小于正常压力时，测试门才能被打开，因

     此而保证了操作人员的安全。

4、具备异常故障讯号警示功能

产品应用范围：适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板IC、PCB、LCD、Board、电池、电容、电阻、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。